数字集成电路测试仪 


2005-2-23

 

BJ3125A 数字IC测试系统可测试 32pin以下的TTL.CMOS.NMOS.RAM.PROM.EPROM.EPLD等器件的逻辑功能和直流参数.可对单片机,EPROM.EEFROM.PALCE.GAL.IC编程写入. 新品 98,000
IST6500 存储器 IC测试仪对 DRAM/SIMM/SRAM/VRAM及PC/MCIA 卡提供 即时的功能分析测试.提供多种测试模式 .测试范围广.
附件 :
SIMM(30pin,60pin动态存储器)测试适配器
DRAM (动态存储器)测试适配器
SRAM (静态存储器)测试适配器
通用DRAM测试适配器88pinDRAM测试适配器
美国 91,185
24,135
14,600
24,760
9,000
28,075
3203 存储器 IC测试仪 对各种存储器及各种存储 条进行 实时功能测试 ,快速、简便.存储条可测72pinSIMM、144pinDIMM、168pinDIMM.即时检测出存储 条功能 好坏,读写时间.可判断存储条上有问题芯片的具体位置 及管角 .可独立或连接PC. 美国 58,000
ICT33C 数字 IC测试仪 可测 40pin以下TTL.COMS.RAM.单片机.I/O.光 耦 .数码管等的功能,可识别型号 ,循环测试.还可对EPROM、EEPROM进行读写及编程、拷贝.测试电压可选 3V、5V、9V、15V. 新品 5,300
SIMI100 数字IC分选测试仪8种可选择模式,对32pin以下TIL、CMOS、RAM、EPROM等IC进行直流参数和功能综合测试分选 ,可靠、实用. 12,800
RF1800 智能型编程器 智能并口 40线 ,3000余种编程,中文界面,WIN95/98,编程支持:PLD(GAL、PALCE、ATF、PEEL);EPROM;EEPROM;FLASHROM; MPU(AT89C/87F/90S、W78E/87C、97C、PIC12C/16C、Z86E....系列); IC测试;门阵列、单片机直读;特殊加密解密(支持对GAL16V8/A/B、22V10/B,PALCE16V8H、20V8H,部分AT89C51/52/1051/2051.
的直读解密.并可将16V8、20V8、22V10R“熔丝”文件直接转换成逻辑表达式供分析修改);逻辑仿真.
2,800

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