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3504
C测试仪

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产地:日本 厂商:日本日置 价格:715.00

产品特点:

封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等

  • 最多可分成14 类,能简单地根据测量值进行分类 (仅限于3504)
  • 能根据C 和D (损耗系数*2)的测量值,进行被测物合格与否的判断
  • 高速测量:测量频率1kHz 时2ms, 120Hz 时10ms。
  • 可选定测量电压
  • 触发同步测量
基本参数

测量参数 Cs,Cp(电容),D(损耗系数tan)
测量范围 C:0.9400pF~20.0000mF
D:0.00001~1.99000
基本確度 (代表値)C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016
※測定確度= 基本確度× B× C× D× E, B~Eは各係数
测量频率 120Hz, 1kHz
测量信号电平 恒定电压模式: 500 mV, 1 V
测量范围:
CV1V: ~ 70 μF 量程(测量频率1kHz)
CV1V: ~ 700 μF 量程(测量频率120Hz)
CV500 mV: ~ 170 μF 量程(测量频率1kHz)
CV500 mV: ~ 1.45mF 量程(测量频率120Hz)
信号电平精度 ±10% ± 5 mV
输出电阻 5Ω(CV1V, CV500mV 开路端子电压模式,上述测量范围以外)
显示 发光二级管
测量时间 典型值: 2.0 ms ( 1 kHz, FAST)
※测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同
機能 BIN 分选测量功能(仅限于3504), 触发同步测量, 设定测量条件保存功能, 比较器测量功能, EXT I/O输入/输出, RS-232C接口(标准), GP-IBイ接口(仅限于3504)
电源 AC 100/120/220/240V ±10%(可选择), 50/60Hz, 最大110VA
体积及重量 260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg
附件 电源线× 1, 电源备用保险丝× 1

4端子测试探头 9140DC~100 kHz, 1 m

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针型测试探头 9143DC~5 MHz, 1 m

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测试冶具 9261DC~5 MHz, 1 m

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测试冶具 9262DC~5 MHz, 直結型

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SMD测试冶具 9263DC~5 MHz, 直結型

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SMD测试冶具 9677操作频率:DC~120MHz;测量对象尺寸:3.5±0.5mm
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